一、高溫老化試驗范圍：
本規(guī)范規(guī)定了半成品、產(chǎn)品及主要功能模塊的高溫老化過程及操作規(guī)則。適用于需進行高溫老化的產(chǎn)品。
二、高溫老化篩選目的：
為提高產(chǎn)品可靠度,消除加工應力和殘余溶劑等物質，模擬嚴酷工作環(huán)境，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝
和元件引起的早期故障，確保整機品質和期望壽命，進入高可靠的穩(wěn)定期。
三、高溫老化試驗基本要求：
3.1 高溫老化篩選對象
3.1.1 進行老化試驗的產(chǎn)品應是裝配調測合格品；
3.1.2 公司半成品、產(chǎn)品及主要功能模塊。
3.2 模擬狀態(tài)要求
3.2.1 為保證產(chǎn)品的性能穩(wěn)定可靠，老化時應模擬產(chǎn)品工作狀態(tài)；
3.2.2 當老化的產(chǎn)品需輸入信號時，應在額定輸出功率狀態(tài)下進行，同時做好散熱措施。
3.2.3 對于射頻設備應：
a）設備的信號線和負載線的接入、接出應按照基本操作要求進行,并模擬設備的實際工作狀態(tài)；
b）設備輸出端應與阻抗匹配的負載相連，負載的額定功率應不小于整機額定輸出功率2 倍～3 倍；
c）在信號源和設備之間，應加上隔離器或環(huán)形器；
d）嚴禁將大功率功放的輸出信號通過合路器合路再進入負載的連接方式。
四、老化前的準備及注意事項：
a） 老化前應確認高低溫試驗箱設備是否完好；
b） 當多臺老化產(chǎn)品一起進行試驗時，各老化產(chǎn)品之間應有足夠的間隙，以使高低溫試驗箱SC/GDW內(nèi)溫度有足夠的均勻性。
不應將老化產(chǎn)品堆積或擺放無序，以免影響老化效果和對產(chǎn)品造成損壞。
五、高溫老化溫度和時間：
高溫老化溫度、時間如下所示可任選一種：
a）室溫條件下通電連續(xù)老化不得少于 96 h；
b）40℃±2℃條件下通電連續(xù)老化不得少于72 h；
c）45℃±2℃條件下通電連續(xù)老化不得少于48 h；
d）50℃±2℃條件下通電連續(xù)老化不得少于24 h；
e）55℃±2℃條件下通電連續(xù)老化不得少于12 h。
六、高溫老化程序：
6.1對老化產(chǎn)品施加產(chǎn)品標準中規(guī)定的工作電壓。
6.2在老化產(chǎn)品通電的狀態(tài)下將高低溫試驗箱的溫度加熱至規(guī)定的試驗溫度，老化過程中的環(huán)境溫度變化應
在規(guī)定溫度的±2℃范圍內(nèi)。
6.3 老化溫度達到規(guī)定值，恒溫后開始計時。
6.4 老化過程中應每隔2 h 查看老化室的運行是否穩(wěn)定，特別是測量溫度。老化過程中發(fā)現(xiàn)溫度異常
時，應立即切斷電源。待老化室恢復正常后再繼續(xù)進行老化。
6.5 老化產(chǎn)品在老化過程中應定時進行主要性能指標檢測，具體指標種類及參數(shù)在轉產(chǎn)文件的技術說
明中規(guī)定。
a）常規(guī)產(chǎn)品老化,每 5h～6h 測試一次,并記錄測試時的溫度；
b）常規(guī)產(chǎn)品老化，采用抽測方式，每次測試的產(chǎn)品應不少于 10％；
c）遇到所測型號設備存在問題時，武漢尚測提醒您應根據(jù)實際情況，增加該類產(chǎn)品的檢測數(shù)量，并不少于
10％。
6.6 老化過程中產(chǎn)品出現(xiàn)故障時，應在附錄A 的備注欄中詳細記錄故障情況。
6.7 老化后的產(chǎn)品在室溫下至少放置2 h 后，由生產(chǎn)計劃部進行復測，并做好測試記錄，合格后提交
檢驗部門檢驗。
6.8 單盤的測試在老化后進行，測試項目包括監(jiān)控功能、輸出電壓值等。抽測數(shù)量應不少于20％，如
老化后有不合格的試驗樣品，該批次需全部測試。
注：本規(guī)范中的單盤指直接提供給用戶的單盤或模塊。
七、標識：
a）老化測試合格的產(chǎn)品，應在產(chǎn)品易觀查的表面用綠色標簽做標識；
b）老化測試不合格的產(chǎn)品，應在產(chǎn)品易觀查的表面用紅色標簽做標識。
八、測試記錄：
8.1 根據(jù)測試的項目填寫老化測試記錄，見附錄A。
8.2 單盤老化測試記錄見附錄B。
8.3 老化測試記錄表應每月由人員歸檔。
九、高低溫試驗老化設備維護要求：
9.1 老化試驗的所有測試器件應定期進行測試檢驗，
9.2 所有老化設施的檢測應每月進行一次,主要檢測項目為：
——老化設備高低溫試驗箱溫控系統(tǒng)的校應；
——老化負載的駐波比測試；
——信號源的輸出信號準確度的測試；
——電源的輸出電壓測試。
9.3 測試結果應記錄，要有正規(guī)的、統(tǒng)一的格式。